In der Halbleiterfertigung entscheiden zuverlässige, kontrollierte Nassprozesse über die Ausbeute, Qualität und Reproduzierbarkeit. Gerade bei Prozessschritten wie SC1, SC2 oder BOE (Buffered Oxide Etch) müssen chemische Konzentrationen präzise eingehalten werden, weil schon kleine Abweichungen Reinigungs- und Ätzergebnisse negativ beeinflussen können. Mit einem neuen, speziell für den Halbleiterbereich vorgesehenen Sensor, bringt SensoTech nun eine Ultraschalllösung auf den Markt, mit der sich diese Konzentrationen direkt inline und in Echtzeit überwachen lassen.
Im Fokus stehen klassische und modifizierte SC1- und SC2-Chemien in der Waferfertigung, konkret NH₄OH / H₂O₂ / H₂O beziehungsweise HCl / H₂O₂ / H₂O, nicht nur in Standardansätzen, sondern auch in prozessspezifischen Verdünnungen, Konzentrationsfenstern und angepassten Rezepturen, z. B. mit TMAH. Gleiches gilt für BOE (beziehungsweise BHF) auf Basis von HF und NH₄F, bei denen bereits kleinere Abweichungen die Ätzrate, Selektivität und Prozessstabilität beeinflussen können. Genau für diese chemisch sensiblen Nassprozesse wurde der neue Sensor ausgelegt.
Die Zielgruppe sind vor allem Halbleiterhersteller, Betreiber von Wet Benches und Nassprozessanlagen sowie Prozess-, Equipment-, Integrations- und Qualitätsingenieure, die chemische Prozessstabilität im Reinraum sicherstellen müssen. Ihr Alltag ist geprägt von engen Prozessfenstern, hohem Qualitätsdruck, begrenztem Platz im Cleanroom und dem Bedarf, chemische Zusammensetzungen möglichst ohne zusätzliche Probenahme oder manuelles Handling zu überwachen. Zwar existieren für diese Aufgaben bereits Inline-Analyselösungen, sie basieren jedoch häufig auf aufwändigeren Messverfahren und sind entsprechend anspruchsvoll in Integration und Betrieb. Genau hier setzt der neue Sensor an: Statt auf zeitversetzte Laboranalysen oder komplexe Analytik zu setzen, stehen Informationen zur jeweiligen Konzentration unmittelbar im Prozess zur Verfügung.